JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡
以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
▏產品詳情
·以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。
·精煉的外型，全新的視覺感受。
為分析型電鏡全新設計的GUI，使操作更加直觀方便。
JEOL長年積累的豐富經驗在設計上得到了充分的體現，與舊機型相比，電鏡的機械性和電氣穩定性都得到了很大的提高。
·JEM-F200 采用能以皮米級步長移動樣品臺的Pico stage drive（不用壓電驅動），能在寬動態范圍移動視野-從樣品的整個柵網視野移動到原子級圖像視野移動都能進行。
·插入和拔出樣品桿，對電鏡初學者來說一直是高難度的操作。 JEM-F200配備的SpecPorter，即使新手也能輕松掌握，將樣品桿安裝在指定的位置上，只用一個按鈕即能安全地插入或拔出。
·JEM-F200能同時安裝兩個大口徑、分析靈敏度高的硅漂移檢測器（SDD）（選配件）。 憑借更高的靈敏度，EDS分析速度更快，對樣品的損傷更小。
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