絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)
小型輕量及高密度封裝測(cè)試?yán)?/div>
▏產(chǎn)品詳情
面對(duì)電子產(chǎn)品越來(lái)越小型輕量及高密度封裝，因結(jié)露吸濕等因素造成的絕緣不良現(xiàn)象暨離子遷移現(xiàn)象日益突出，絕緣電阻劣化（離子遷移）評(píng)估系統(tǒng)配之以高溫高濕試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，可高精度連續(xù)監(jiān)測(cè)，高效簡(jiǎn)便評(píng)估因離子遷移現(xiàn)象引起的壽命及絕緣電阻劣化相關(guān)問(wèn)題。
適用標(biāo)準(zhǔn)：JPCA-ET04、IPC-TM-650_2.6.3F 、IPC-TM-650_2.6.3.1E、IPC-TM-650_2.6.3.4A 、IPC-TM-650_2.6.3.6。
產(chǎn)品特點(diǎn)：
高精準(zhǔn)測(cè)量
自主開(kāi)發(fā)連續(xù)通電掃描繼電器方式，配備國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)的測(cè)量?jī)x表，與環(huán)境試驗(yàn)箱聯(lián)動(dòng)，操作更簡(jiǎn)便更安全。
應(yīng)力電壓范圍廣泛
標(biāo)配100V應(yīng)力電壓（應(yīng)力電壓/測(cè)量電壓），更有300V、500V高電壓規(guī)格備選。
連續(xù)通電掃描方式
ESPEC獨(dú)有掃描動(dòng)作技術(shù)，切換掃描時(shí)不發(fā)生無(wú)電壓狀態(tài)，測(cè)量電壓與偏置電壓均使用同一電壓源控制，可準(zhǔn)確控制電壓。
漏電流檢測(cè)功能
高速準(zhǔn)確捕捉離子遷移現(xiàn)象發(fā)生的細(xì)微變化，離子遷移實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)。
專用統(tǒng)計(jì)軟件
「E-Graph」可實(shí)時(shí)編輯預(yù)覽監(jiān)測(cè)實(shí)時(shí)獲得的數(shù)據(jù)。
專用連接樣件夾具
選配可使連接樣品及線纜更方便，試驗(yàn)效率更高。
PRODUCT
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